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jpt100 抵抗値 温度 換算式 7


\end{eqnarray}, となるため、抵抗値Rと抵抗率ρが等しくなります。つまり、抵抗率は単位体積(1m3)あたりの導体の抵抗値ということになります。, \begin{eqnarray} 放射温度計インデックス; デジタル光高温計 ir-urn 附属書JA(参考)抵抗素子及び測温抵抗体の許容差判定における不確かさの算出例  19, この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本, 電気計測器工業会(JEMIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工, 業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工, これによって,JIS C 1604:1997は改正され,この規格に置き換えられた。, この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意, を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実, この規格は,2008年に第2版として発行されたIEC 60751を基に作成した日本工業規格であるが,対応, なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している。変更の一覧, この規格は,温度測定に使用する白金測温抵抗体(以下,測温抵抗体という。)及び測温抵抗体に組み込, 注記1 この規格における温度値は,1990年国際温度目盛(ITS-90)に準拠する。, IEC 60751:2008,Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors, なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”, 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの, 抵抗素子,内部導線,絶縁物,保護管,端子などからなる白金測温体。ただし,分離できる保護管及び, 注記 用語として,対応国際規格を翻訳した場合は,“白金測温抵抗体”となるが,この規格では一般, シース測温抵抗体(metal sheathed resistance thermometer), 測温抵抗体で,柔軟性をもち,保護管と内部導線及び抵抗素子の間に絶縁物を充塡し,一体となった構, 絶縁体(多くの場合ガラス又はセラミック)に納められ,定義された電気特性をもつ白金線(巻線抵抗, 抵抗素子及び内部導線が被測定物又は雰囲気からの影響を直接受けないように保護するために付ける管。, 測温抵抗体のうち,測定対象と同じ温度になるべき部分。抵抗素子及びその近傍にある保護管の一部を, 測温抵抗体の抵抗素子の温度による抵抗変化を導き出すために付けた金具又は内部導線の端部。, 電気回路の全ての部品と測温抵抗体のシース間,又は複数の感温回路をもつ測温抵抗体の場合には,そ, 常温又は高温で,規定された測定電圧(交流又は直流)下での全ての電気回路と保護管間の電気抵抗値。, 測定電流の消費電力によって引き起こされる,抵抗素子の温度上昇又は測温抵抗体中の抵抗素子の温度, 測温抵抗体内の電流供給・電圧検出用の導線部分で,接続部に異種金属の介在及び材料の不均質が発生, し,この部分が温度勾配に置かれると熱起電力(EMF)が誘引され,誤差要因となる現象。, 抵抗素子又は測温抵抗体の抵抗値から,その規準抵抗値を引いた値を温度換算した値としてこの規格が, 抵抗素子及び測温抵抗体が,昇温した場合と降温した場合で同じ温度に達しているにもかかわらず,異, 用いる情報に基づいて,測定対象量に帰属する量の値のばらつきを特徴付ける負でないパラメータ。, 注記 パラメータは,例えば,標準測定不確かさと呼ばれる標準偏差(又はその指定倍量),又は区間, 合理的に測定量に結び付けられ得る値の分布の大部分を含むと期待される区間を定める量。, 測定モデルの入力量に付随する個々の標準測定不確かさを用いて得られる標準測定不確かさ。, 同じ測定条件下での長期の連続した測定から得られた蓄積データ,既存の情報,製造業者が提供する技, 測定不確かさ,その測定不確かさの成分,及び,それらの計算及び合成結果を表した一覧表。, 注記 不確かさバジェットには,測定モデル,推定値と測定モデルの量に付随する測定不確かさ,共, 分散,適用した確率密度関数のタイプ,自由度,測定不確かさの評価のタイプ及び包含係数を, 不確かさが全て表記された切れ目のない比較の連鎖によって,決められた基準に結び付けられ得る測定, 注記1 R100は,100 ℃における抵抗素子の抵抗値。 注記2 R0は,0 ℃における抵抗素子の抵抗値。, ここに,R100はt=100 ℃における抵抗値,R0はt=0 ℃の抵抗値としたとき,α=3.851×10−3 ℃−1とな, 抵抗素子の許容差は,表2のとおりとする。許容差が適用される温度範囲が表2の範囲と異なる場合に, 測温抵抗体の許容差の分類を表3に示す。許容差が適用される温度範囲が表3の範囲と異なる場合には,, その温度範囲を常に明記することにより,この規格を適用できる。また,測温抵抗体の具体的な許容差と, 適用される温度範囲を表4及び表5に示す。ただし,許容差クラスAA及びAは,2導線式の測温抵抗体, a) 表2及び表3に規定されていない許容差クラス及び許容差が適用される温度範囲は,受渡当事者間で, b) 表2及び表3に規定されていない許容差クラスを設定する場合は,許容差クラスBの許容差の倍数又, c) 表2及び表3に規定されていない温度範囲を設定する場合は,受渡当事者間で協定し,決定する。, 許容差の合否判定を製造業者が行うときは,規準抵抗値からの偏差を測定した結果に拡張不確かさ付き, の温度差を付し,その温度差全体が許容差幅の内側にある場合だけ合格となる。使用者が合否判定を行う, ときも,規準抵抗値からの偏差を測定した結果に拡張不確かさ付きの温度差を付し,その温度差全体が許, 容差幅の外側にある場合だけ不合格となる。必要な場合は,測定系の構成及び不確かさ評価について受渡, a) 許容差を判定するときには,測定における不確かさを評価しておかなければならない。, b) 許容差を判定するときには,受渡当事者間で異なる条件で測定された場合,測定結果に差が生じる場, 特に,抵抗素子及び測温抵抗体の検出部を浸せき(漬)する媒体及び電流値が異なる場合に,自己加熱, の影響がある。また,周囲環境及び挿入長さが異なる場合に熱の流入による影響があるので,結果に差が, 生じるため注意が必要となる。受渡当事者間で判定結果を比較する場合は,両者の測定条件を統一するな, どの対策を行うか,又は自己加熱量による差を補正する。必要な場合は,協定し,決定する。, 例 図1は,各供試測温抵抗体及び供試抵抗素子の試験結果を拡張不確かさで表したものである。こ, の場合,製造業者が判定した結果,供試測温抵抗体及び供試抵抗素子No.1だけが合格となる。使, 用者が判定した場合は,供試測温抵抗体及び供試抵抗素子No.1〜No.3は合格,No.4だけが不合, 注記 許容差判定を目的として行われる試験において,考慮しなければならない不確かさ要因に関す, −200 ℃〜0 ℃の範囲:Rt=R0[1+At+Bt2+C(t−100 ℃)t3]  (2), 注記 これらの関係式は,この規格の規準抵抗値を求めるもので,個別の測温抵抗体の係数を求め,, 例えば,参考として公称抵抗値が100 Ωの抵抗素子の規準抵抗値を,表JB.1に示す。公称抵抗値R0が, 500 Ω又は1 000 Ωの規準抵抗値は,R0/100 Ωを表JB.1の規準抵抗値に乗じることによって求められる。, 抵抗値を測定するときに抵抗素子又は測温抵抗体に流す測定電流は,直流又は100 Hz以下の交流電流と, する。製造業者が定めた測定条件下において,より高い周波数を用いてもよい。ただし,試験・検査に用, なお,最大測定電流は,自己加熱の大きさが定められた許容差クラスにおける許容差の25 %を超えない, 使用温度範囲による区分は,表6による。ただし,使用温度範囲が表中の値と異なる場合は,明記しな, 温度に対する抵抗値の特性は,13.2.1.3によって試験したとき,5.4で判定した結果が,表2の範囲でな, 自己加熱の大きさは,13.2.1.4によって試験したとき,表2の許容差の25 %を超えてはならない。, 許容差が適用される温度範囲の上限温度での安定性は,13.2.1.5によって試験したとき,0 ℃で差は,ク, ラスW0.1及びF0.1では±0.1 ℃,クラスW0.15及びF0.15では±0.15 ℃,クラスW0.3及びF0.3では±, 温度に対する抵抗値の特性は,13.3.1.3によって試験したとき,5.4で判定した結果が,表3の範囲でな, 自己加熱の大きさは,13.3.1.4によって試験したとき,表3の許容差の25 %を超えてはならない。, 使用温度範囲の上限温度での安定性は,13.3.1.5によって試験したとき,0 ℃での差は,クラスAAでは, ±0.1 ℃,クラスAでは±0.15 ℃,クラスBでは±0.3 ℃,クラスCでは±0.6 ℃の範囲でなければなら, 温度サイクルは,13.3.1.7によって試験したとき,0 ℃での偏差は,クラスAAでは±0.1 ℃,クラスA, では±0.15 ℃,クラスBでは±0.3 ℃,クラスCでは±0.6 ℃の範囲でなければならない。, 熱電効果は,13.3.1.8によって試験したとき,表3に示す許容差クラスにおける許容差を超えてはならな, ヒステリシスは,13.3.1.9によって試験したとき,表3に示す許容差クラスにおける許容差を超えてはな, 絶縁抵抗は,表8の外径で長さが1 000 mm以下のものについて,13.3.1.6又は13.3.1.12によって試験し, 注記 この項目は,厳しい環境条件下で使用する測温抵抗体に適用するものとして,その適用は受渡, 耐衝撃性は,13.3.1.14によって試験したとき,箇条12を満足し,断線又は短絡がなく,かつ,常温での, 絶縁抵抗が9.2.2.1を満たし,0 ℃での差が0.1 ℃の範囲でなければならない。, 耐振動性は,13.3.1.15によって試験したとき,箇条12を満足し,断線又は短絡がなく,かつ,常温での, 注記 1 000 mmを超える長さは,受渡当事者間の協定による。 注a) この系列は,できるだけ使用しない。, 測温抵抗体は,それぞれ用途に適した構造のものでなければならない。シース測温抵抗体の構造一般は,, 箇条10によるほか,シース測温抵抗体の保護管部分の最小曲げ半径は,保護管外径の5倍とする。ただし,, 保護管の先端には抵抗素子が内蔵されているので曲げられない。曲げ不可能部の寸法(l)は100 mmとす, b) 2導線式は,抵抗素子の両端にそれぞれ1本の導線を接続した形式とする(図3参照)。, c) 3導線式は,抵抗素子の一端に2本,他端に1本の導線を接続し,導線抵抗の影響を除くことができ, るようにした形式とする(図3参照)。この場合の導線は,材質,線径,長さ及び電気抵抗が等しく,, d) 4導線式は,抵抗素子の両端にそれぞれ2本の導線を接続し,導線抵抗の影響を除くことができるよ, 許容差クラスがAA及びAの測温抵抗体は,全て3導線式又は4導線式とする。測温抵抗体は,1本又, は2本の抵抗素子で,様々な内部導線接続方式で構成される。端子の識別は,図3に示すA,Bの記号又, 内部導線の材料は,良質で,加熱による局部的な熱起電力の発生,蒸発,酸化などによって測温に支障, 内部導線の絶縁には,使用温度に対して十分な耐熱性,耐寒性及び絶縁性をもち,かつ,内部導線を汚, 内部導線の抵抗は,1線につき常温で0.5 Ω/m以下でなければならない。ただし,保護管の外径が4.5 mm, 保護管は,抵抗素子及び内部導線が,被測定物又は雰囲気によって侵されないように気密で十分な耐熱, 性,耐寒性及び耐久性をもち,かつ,その内部に湿気が入らないような構造のものでなければならない。, 試験は,特に指定がない限り,JIS Z 8703に規定する温度20 ℃±15 ℃,湿度(65±20) %の状態で行う。, 温度に対する抵抗値の特性試験は,供試抵抗素子を表9に示す試験温度に保たれた装置に十分深く挿入, して,そのときの抵抗値を測定した際,試験温度を式(2)又は式(3)によって抵抗値に換算した値との差を求, 試験時に用いる測定システムは,許容差及び合否判定に必要な性能及び不確かさが評価された機器によ, a) 定点法 定点法は,あらかじめ上位標準によって値付けされた定点実現装置を用い,状態を良好にし, b) 比較法 比較法は,温度分布及び時間的な安定性が良好な装置(液槽が望ましい。)の中に,標準温度, 供試抵抗素子を次の条件を保つ流体中に保持し,最大測定電流及び0.5 mAの二通りの電流から自己加熱, b) 媒体の種類と流速:液体の場合は,0.2 m/s以上,空気の場合は3±0.3 m/s, 供試抵抗素子を空気中で許容差の有効温度範囲の上限温度に1 000時間放置し,試験前後での0 ℃にお, 外観は,目視などで調べる。ただし,シース先端の封止溶接部の健全性を確認するため,該当箇所を水, 中に浸せき(漬)し,絶縁抵抗を13.3.1.12で試験したとき,9.2.2.1を満たさなければならない。, 寸法は,外径をJIS B 7507に規定するノギス又はJIS B 7502に規定するマイクロメータで,長さをJIS B, 温度に対する抵抗値の特性試験は,供試測温抵抗体を表10に示す試験温度に保たれた装置に十分深く挿, 入して,そのときの抵抗値を測定した際,試験温度を式(2)又は式(3)によって抵抗値に換算した値との差を, 試験時に用いる測定システムは,許容差及び合否判定に必要な性能と不確かさが評価された機器によっ, 供試測温抵抗体を次の条件を保つ流体中に保持し,最大測定電流及び0.5 mAの二通りの電流から自己加, 供試測温抵抗体の検出部を使用温度範囲の上限温度で672時間(4週間)以上放置し,試験前後で0 ℃, 供試測温抵抗体が表8の外径で長さが1 000 mm以下のものについて,最小挿入長さ以上を使用温度範, 囲の上限温度にさらし,端子と保護管との間の絶縁抵抗を10 V又は25 Vの直流電圧で測定する。, 供試測温抵抗体の検出部を使用温度範囲の上限温度まで徐々に加熱した後,室温の大気にさらす。次に, 供試測温抵抗体は,いずれの限界温度でも検出部が平衡温度に達するまで試験温度を保持して,10回繰, 供試測温抵抗体を使用温度範囲の上限温度まで加熱し,端子は周囲温度に保つ。供試測温抵抗体の挿入, 長さは,熱起電力が最大となる位置とする。供試測温抵抗体に流す電流は直流の最大測定電流で,電流が, 順方向で測定した供試測温抵抗体の抵抗値と,逆方向で測定した供試測温抵抗体の抵抗値とを比較し,, 供試測温抵抗体の検出部を使用温度範囲の下限温度に暴露した後,使用温度範囲の中間温度で供試測温, 抵抗体の抵抗値を測定する。供試測温抵抗体の検出部は,使用温度範囲の下限温度から中間温度へ連続的, に変化させ,中間温度を超えないようにする。その後,供試測温抵抗体の検出部を使用温度範囲の上限温, 度に暴露して,再度,使用温度範囲の中間温度で抵抗値を測定する。供試測温抵抗体の検出部は,使用温, 度範囲の上限温度から中間温度へ連続的に変化させ,中間温度未満に冷やしてはならない。, ただし,これらの加熱及び冷却の過程を1台の試験装置で実現できない場合は,過程の途中で試験装置, を換えてもよいが,試験装置の移動の際に供試測温抵抗体の温度変化が中間温度を通過しないようにする。, 例 −50 ℃〜250 ℃の適用温度範囲の測温抵抗体を低温用及び高温用の2台の試験装置で試験する, 場合は,−50 ℃から暴露を開始し,昇温しながら測定を行う。低温用試験装置の使用上限で,極, 力暴露温度の非連続性を抑えて,供試測温抵抗体を高温用試験装置に差し替えて,250 ℃まで昇, 供試測温抵抗体を85 ℃以上の恒温液槽に挿入する。挿入長さは,表8に規定する供試測温抵抗体の外, 径の20倍以上とする。抵抗素子の抵抗値を測定しながら挿入長さを徐々に減少させて,0.1 ℃変化したと, 供試測温抵抗体の検出部を第一の媒体中で平衡温度に保ち,瞬時に別の温度に保った第二の媒体中に入, れ指示温度を記録する。通常は,第一の媒体は空気である。第二の媒体は,ある流速をもった流体とし,, その流速は空気の場合は3±0.3 m/sとし,液体の場合は0.2 m/s以上とする。このような条件で温度指示が, 供試測温抵抗体が表8の外径で長さが1 000 mm以下のものについて,常温における端子と保護管との, 供試測温抵抗体の検出部を常温に保ち,端子と保護管との間に,周波数50 Hz又は60 Hzの正弦波に近, ただし,測温抵抗体に複数の回路がある場合,又は保護管外径4.5 mm以下のものは,各々の回路につ, 供試測温抵抗体を横に持ち,固い床の上に置いた厚さ6 mmの鉄板の上に,250 mmの高さから10回繰, 供試測温抵抗体を次の試験条件で試験を行う。また,試験は,可能な限り使用時と同じ固定方法で行う。, なお,静電容量については,14.3 c)の追加検査を実施するときは測定データだけを示すこととする。, 供試測温抵抗体の周波数1 kHzにおける,一つの抵抗素子を含む回路のインダクタンス測定を行う。複, なお,インダクタンスについては,14.3 c)の追加検査を実施するときは測定データだけを示すこととす, 検査は,箇条13の試験によって,次の形式検査,受渡検査及び追加検査を行い,箇条9,箇条10及び, c) 追加検査項目 追加検査は,代表的サンプルに対して受渡当事者間の協定によって追加可能な次の項, 測温抵抗体の呼び方は,名称,種類の記号,許容差クラス,測定電流,使用温度区分の記号又は使用温, 例 測温抵抗体 Pt100 クラスA  1 mA  H 3導線式 6×500 mm, シース測温抵抗体 Pt100 クラスB  1 mA  M 3導線式 6×500 mm, a) 種類の記号,素子の数,許容差のクラス,測定電流及び使用温度区分の記号又は使用温度範囲, この附属書は,5.4の許容差判定を目的として行われる温度に対する抵抗値試験において考慮しなければ, 許容差判定に使用する不確かさ(拡張不確かさ)は,JA.2.2〜JA.2.6の手順によって算出する。, なお,不確かさの評価方法の詳細は,“計測における不確かさの表現ガイド(ISO/IEC Guide 98-3)/Guide, to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM)”を参照する。, 特定した測定方法において,測定結果に対し影響を与える可能性がある要因を抽出する。詳細をJA.3, 抽出した各要因に対して,標準不確かさを算出するための例として,ここでは次の方法を示す。, a) 校正結果から標準不確かさを算出する方法の例 試験に使用する測定器の校正結果に不確かさが表, 記されている場合は,拡張不確かさを包含係数で除し,1標準偏差相当の標準不確かさを算出する。, b) 管理幅から標準不確かさを算出する方法の例 蓄積データ,既存の情報,製造業者が提供する技術情, 報などを根拠に使用者が管理幅を設定する。この幅をく(矩)形分布の範囲と仮定した場合は,管理, c) 実測データから標準不確かさを算出する方法の例 あるデータから得られた結果を実験標準偏差の, なお,実験標準偏差は,関数電卓,表計算ソフトウエアなどの機能を用いれば,簡単に算出するこ, 求めた合成標準不確かさに包含係数を乗じる。有効桁数に丸める場合は,四捨五入ではなく切り上げる, a) 試験を簡便に行うにはプール値を採用することが可能であり,その算出手法は複数から選択できる。, 自身の蓄積したデータから求める場合は,極端に少ないサンプル数から不確かさを算出すると不確か, さの過小評価の可能性があり,逆に多い場合は,評価するために多大な労力が必要となる。また,既, 存の情報,技術情報などは,測定条件が異なれば適用できない場合がある。どの情報から不確かさを, 算出するかは,採用するシステム,期待する不確かさ,評価を行う労力などから総合的に判断する必, b) 不確かさの評価では使用するシステムにおいて,校正結果と表示値とに差が生じている場合は,その, c) 設定した管理幅を超える可能性が生じる又は超えた場合は,新たな管理幅を設定して標準不確かさを, d) 不確かさの算出において,表計算ソフトなどを使用する場合は,算出過程における有効桁数の取扱い, 13.3.1.3 b) の比較法を用いた0 ℃の試験における不確かさの算出例を示す。, a) 不確かさの要因及び不確かさの大きさは,採用する測定システム及び測定方法によって異なる。ここ, で取り上げた不確かさ要因は,一例であり,全ての要因ではない。目標とする不確かさの大きさによ, b) 標準器としてここの一例で示す指示計器付温度計は,校正機関で校正されたときの条件が維持されて, いることが前提である。特に,検出部を浸せき(漬)する媒体及び電流値が異なる場合に自己加熱の, 影響で,周囲環境及び挿入長さが異なる場合は,熱流入の影響で,校正機関の結果と差が生じること, c) 許容差を判定するときに,受渡当事者間で異なる条件で測定された場合,結果に差が生じる場合があ, る。b) と同様に,抵抗素子及び測温抵抗体の検出部を浸せき(漬)する媒体及び電流値が異なる場合, に自己加熱の影響がある。また,周囲環境及び挿入長さが異なる場合に熱の流入による影響があるの, で,結果に差が生じることがあるため,注意が必要となる。受渡当事者間で判定結果を比較する場合, は,両者の測定条件を統一するなどの対策を行うか,又は自己加熱量による差を補正する。必要な場, ここでは,温度液槽に“オイルバス”,標準器測定システムに“指示計器付き温度計”,試験対象品測定, システムに“電圧測定器+電流発生器+スキャナ”,試験対象品に“測温抵抗体”を採用した場合の測定シ, ① オイルバス ② 指示計器付き温度計 ③ 電圧測定器 ④ 電流発生器 ⑤ スキャナ ⑥ 測温抵抗体, ・熱媒体:シリコーンオイル ・0 ℃における安定性:±0.01 ℃ ・測定位置間での温度差:0.01 ℃, ・センサ:測温抵抗体 ・校正の不確かさ:0.006 ℃(k=2) ・経年変化:1年間の最大変化量0.01 ℃ ・表示分解能:0.001 ℃, ・測定レンジ:DC100 mV ・校正の不確かさ:0.002 mV(k=2) ・経年変化:1年間の最大変化量0.002 mV ・表示分解能:0.001 mV, ・測定電流:DC1 mA ・校正の不確かさ:20 ppm(k=2) ・経年変化:1年間の最大変化量0.02 μA ・設定分解能:0.01 μA, ・公称抵抗値:100 Ωat0 ℃ ・導線形式:3導線式 ・導線抵抗のばらつき:最大0.004 70 Ω ・0 ℃における抵抗値変化量:0.39 Ω/℃, 1) オイルバスの安定性 オイルバスの安定性±0.01 ℃を管理幅に定めたと仮定し,標準不確かさを,, 2) オイルバスの温度分布 温度分布0.01 ℃を管理幅に定めたと仮定し,標準不確かさを次の式(JA.2), 1) 指示計器付き温度計の校正の不確かさ 校正の不確かさから標準不確かさを次の式(JA.3)によって, 2) 指示計器付き温度計の経年変化 経年変化0.01 ℃から管理幅を±0.01 ℃に定めたと仮定し,標準, 注記1 データが蓄積されていない場合などは,カタログ値などから管理幅を設定すると求めや, 3) 指示計器付き温度計の分解能による不確かさ 分解能0.001 ℃を管理幅に定めたと仮定し,標準不, c) 試験対象品測定システムに関する不確かさ 次の項目について,温度に換算するときに,試験対象品, 1) 電圧測定器の校正の不確かさ 校正の不確かさから標準不確かさを次の式(JA.6)によって求める。, この値を抵抗値に変換すると0.001 Ωとなり,さらに,これを温度に換算した0.002 6 ℃を電圧測, 2) 電圧測定器の経年変化 経年変化0.002 mVから管理幅を±0.002 mVに定めたと仮定し,標準不確, この値を温度に換算した0.002 9 ℃を電圧測定器の経年変化による標準不確かさとする。, 3) 電圧測定器の分解能による不確かさ 分解能0.001 mVを管理幅に定めたと仮定し,標準不確かさを, この値を温度に換算した0.000 7 ℃を電圧測定器の分解能による標準不確かさとする。, 4) 電流発生器の校正の不確かさ 校正の不確かさから標準不確かさを次の式(JA.9)によって求める。, この値を抵抗値に変換すると0.001 Ωとなり,さらに,これを温度に換算した0.002 6 ℃を電流発, 5) 電流発生器の経年変化 経年変化0.02 μAから管理幅を±0.02 μAに定めたと仮定し,標準不確かさ, この値を温度に換算した0.002 9 ℃を電流発生器の経年変化による標準不確かさとする。, 6) 電流発生器の分解能による不確かさ 分解能0.01 μAを管理幅に定めたと仮定し,標準不確かさを, この値を温度に換算した0.000 7 ℃を電流発生器の分解能による標準不確かさとする。, 7) スキャナの寄生熱起電力 カタログ値の1 μVを管理幅に定めたと仮定し,標準不確かさを次の式, この値を温度に換算した0.000 7 ℃をスキャナの寄生熱起電力による標準不確かさとする。, 1) 測温抵抗体の安定性による標準不確かさ 事前に評価し,0.010 0 ℃のプール値が得られた。, 注記2 試験対象品の安定性は,測定中のドリフト,再現性,繰返し性などとも呼ばれる場合が, 2) 測温抵抗体の導線抵抗のばらつきによる標準不確かさ(3導線式だけ適用) この測定システムでは,, 3導線式の場合,導線抵抗のばらつきが結果に影響を与える。事前に評価し,導線抵抗値差の最大, 値が0.004 70 Ωであった。この値を管理幅に定めたと仮定し,プール値を算出する[式(JA.13)参照]。, 注記2 2導線式の場合も考慮する必要があるが,4導線式の場合は,導線抵抗による影響を除去, e) その他 測定システムの電源変動,周囲環境の影響などの原因によるノイズが発生し,試験結果に影, 響を及ぼす場合は,別途評価し,加算する。ここでは,不確かさとして十分小さいと仮定し無視する。, 各要因で求めた標準不確かさから,0.015 1 ℃の合成標準不確かさを求め,更に包含係数2を乗じ,ここ, では有効桁数を2桁に切り上げた0.031 ℃の拡張不確かさを求めた。この不確かさを許容差判定に用いる, IEC 60751:2008 Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors, 電気抵抗を温度として定義する工業用白金抵抗温度センサ,工業用白金抵抗温度計の要求事項,及び温度/抵抗の関係を規定する。, 抵抗素子の温度係数αを,JISでは箇条4(種類)に規定した。 技術的差異は特にない。, IEC規格に規定されない用語として,内部導線,不確かさ関連用語などを追加している。 技術的な差異はない。, 表1における温度と抵抗値の関係が適用できる種類(100 Ω,10 Ω,500 Ω,1 000 Ω)を規定している。, JISでは,表1(種類)として,一般的に使用される抵抗素子・測温抵抗体の種類を記載した。技術的な差異はない。使用者の理解を助けるためのものである。 抵抗素子の温度係数αを定義した。, 従来JISにある項目であるため残した。 追加の項目なので今後の対応は不要。    温度係数αについては,抵抗素子の特性を表す際に国内では一般的に使用されているため,定義として導入している。, 表4(巻線による抵抗素子を用いた測温抵抗体の許容差値),表5(薄膜による抵抗素子を用いた測温抵抗体の許容差値)を記載した。 使用者の理解を助けるためのものである。技術的差異はない。, 従来JISにある項目であるため残した。     追加の項目なので今後の対応は不要。, IEC規格に整合させたが,分かりやすい記述にした。技術的差異はない。 不確かさ算出例として附属書JA(参考)を追加した。, 抵抗素子への測定電流は,6.4.3に定める条件下で,温度計の自己加熱が定められた許容差クラスにおける許容差値の25 %を超えない値に制限する。測定電流は通常,100 Ωの巻線抵抗では1 mAを超えない。, 最大測定電流の考え方を採用し,技術的差異はない。 IEC規格に記載されている“巻き線抵抗素子では通常1 mAを超えない”は妥当性に欠けると判断したため,“一般的には次の値を用いる。0.5 mA,1 mA,2 mA”とした。, IEC規格は要求事項に試験方法・判定基準が併記されているが,判定基準として独立した項目がない。 IEC規格は特性について規定しており製品規格ではない。これに対してJISは製品規格という側面をもっている。この性格の違いからくる規格本文の相違である。, JISでは,詳細に規定した。 識別以外にB,Aによる記号の表示も可とした。 技術的差異はない。, IEC規格は要求事項へ試験方法が併記されているが,試験方法として独立した項目がない。 IEC規格は特性について規定しており製品規格ではない。これに対してJISは製品規格という側面をもっている。この性格の違いからくる規格本文の相違である。, 従来JISに規定のある形式検査及び受渡検査をこの規格でも踏襲し具体的に規定している。, IEC規格には検査の項目がない。 IEC規格は特性について規定しており製品規格ではない。これに対してJISは製品規格という側面をもっている。この性格の違いからくる規格本文の相違である。形式検査及び受渡検査の項目追加をIECに提案する。, 記号に関しては,IEC規格では明記されていない項目であるので,今後,IECに提案する。.

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