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温度上昇 試験 k 10


「ケルビンの温度差70K=摂氏の温度差70℃」 (b) 高圧または特別高圧。 少量の特別仕様品で一発物は、大きめに、エイヤッと決めます。(冗談), 単純な計算には乗らないので、考え方をお話します。長くなります。 スケールが違うというのは、変換する際に剰余算が含まれています。 (b) 灯動兼用バンクの V結線で、中性点接地。たぶん S線とT銭の中間で接地されている。 中性点から、アースをとっても同じなのでしょうか?地中から、トランスに電流を逃がすのと、直接中性点に逃がすのと、違いは、?あるのでしょうか? 上記の換算は「値」の話で、℃とKの1と言う数字の目盛り(?)容量(?)は同じなので、単位表示は違えど、「差」は同じ数字で表すことができるということですね!? 頭の中のもやもやがすっきりしました。決めてはないんですね。。。 摂氏から華氏を求めるには ご参考にして頂ければ幸いです。 定格以上の容量を遮断しようとすると熱により接点が溶着したり、溶断してしまうことがあるようです。 電安法を書いた人が、差の話の時はKにしといて、見分けをつくようにしたかったからでしょうか?, 御回答ありがとうございます。 温度 注 (1) 使用状態や適用絶縁材料を踏まえて、温度上昇限度を、以下の値に指定してもよい。 巻線の温度上昇限度(on,of):65k,(od):70k,油の温度上昇限度60k (2) 油表面近くで温度を測定する。 (3) 開放形コンサベータ付の場合を含む。 以前にいづれかがアースに落ちている場合があると聞いたことがあり,この辺が不明なのですが。, いくつか逆質問になります。 どこかが故障したとき、それでも保護したい特別な部品などあるか。このときは、シビヤな検討が必要です。出来れば、ヒューズの遮断特性を入手してください。 ただ、式の意味がイマイチ理解できないので解説付きでご回答頂けると幸いです。 するとここでのケルビンは 【2】 前項の(a)であるとして、単相負荷の容量はどのくらいですか。また、三つに分割できますか。 ブレーカー容量は電線の太さで決まり、電線の太さは許容電流と電圧降下で決まります。 定格電流は、その遮断器に連続的に電流が流れ続けた時の動作の限界値を表していると思います。 しかし、諸外国では、動作する値を表す場合も多いようです。(例えば、アメリカ製など) なんか、日本語が変ですね。 (a) 低圧。 摂氏と華氏はスケールが違います。 (a) のグループでしたら、三相電源に単相負荷をかけることは一般的に認められます。 (イ) 器体の外部に炎又は溶融した絶縁性充てん物が出ないこと。 漏電で流れてしまう場合は、電流が微量であったり、漏電遮断器がすぐに作動するするため、危険は回避されます。 電安法についてはまだわからない事だらけで、他の項目についても質問させていただくと思いますので・・・(もちろん自分なりに努力は致します)その時は宜しくお願いします。。。ありがとうございました。, お返事がおくれてごめんなさい。。。 定格の消費電力、突入電流等から導くのだと思いますが  = だいたい400N 華氏と絶対華氏はスケールは同じです。 機器(負荷)だけが接地され、地面につながっていても、万が一、漏電が起こったときに電流の逃げる道(Nに戻る道)がないため、人体に電気が流れてしまい、危険な状態となってしまいます。普通は、人体より地面のほうが抵抗が小さいので、人間はほとんど感電せずにすみます。, (1)L側は、100Vの電圧が加わっており、N側は0Vです。もし、N側にヒューズを入れ、このヒューズが切れてしまっても、L側は100Vとつながったままですので、事故が起きているのに危険な状態のままになっています。L側にヒューズを入れておけば、過電流などにより事故が起きてもN側は、0Vなので危険はありません。 温度の単位で k(ケルビン)がありますが、摂氏℃との相関を教えてください。 絶対温度 0(k)=-273.15(℃)、と物理の教科書で調べました。 絶対温度 t=-273.15+t とあります。 温度上昇値 30k という場合、単純に 30℃の上昇と考えて良いでしょうか? また・・・ N側に入れても、電流はLとNに同じだけ流れるので、問題ないと思うのですが。 皆さんもご指摘している通り、遮断容量が大きくなると、値段、寸法、納期(受注生産品になったり)が大きく(高く、長く)なります。 40kgのおもりなので、「おもりにかかる重力」は40kgfです。 ブレーカーの仕様に定格電流と定格遮断容量とありますが、違いや意味を教えてください。定格電流は、その電流値を超えた場合にトリップするものだとは認識しているのですが。遮断容量は大きいほうがいいのでしょうか?詳しい説明をお願いします。, こんにちわ! 温度上昇値 30K という場合、単純に 30℃の上昇と考えて良いでしょうか?, こんばんは 温度が上昇するには、ある程度の時間が掛かります。電流が大きいほど早く切れます。切れ方は、電流と時間とに関わります。少し周囲温度にも関係します。速断ヒューズでは、スプリングで引っ張って早く切れるようにしてあります。 ただし、エネルギーの供給源は、電源だけとは、限りません。例えば、三相誘導電動機が接続されていると電動機の運動エネルギーがエネルギー供給源となり数サイクルの間電源となりますので注意が必要です。 ご理解頂けましたでしょうか。, ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか?一応断面積は40mm^2です。 これで理解できました。本当に有難うございます。 許容される電圧降下を1%とすれば、電線こう長12mまでVVケーブル8mm2でよく、ブレーカーは40Aです。 上記のようなので、定格電流では切れず、突入電流でも切れず、異状時には、必ず切れるように選定することは、かなり困難です。 以上、どうか宜しくお願いします。, お返事がおくれてごめんなさい・・・。 絶対摂氏と摂氏はスケールが同じですので、仰る通りだと思います。 有効電力がPowerから、P となった後 (b) のグループは、単相三線式の電源で使用することが基本であり、三相電源からの使用は認められません。 (a) 動力専用バンクの三角 (またはV) 結線で一線接地。たぶん S線が接地されている。 大量生産品の開発では、突入で切れないよう選定したヒューズで、特定の内部部品を保護できないときは、逆に内部部品を強化したりもします。このため、何百回もヒューズを飛ばしながら、最適値を求めたりもします。安全側に選定すると切れることもありうるので、予備ヒューズを添付することもあります。 三相200Vの場合,R(赤)S(白)T(黒)の3線が電源として配線されておりますが,単相200Vととして使用する場合,R-S,R-T,S-Tのいづれを取っても良いのでしょうか。 以上、だらだらと述べましたが、少しでも参考になればと思います。, こんにちわ! 両方接地されていないと、感電防止?にならないのでしょうか?, (1)L側は、100Vの電圧が加わっており、N側は0Vです。もし、N側にヒューズを入れ、このヒューズが切れてしまっても、L側は100Vとつながったままですので、事故が起きているのに危険な状態のままになっています。L側にヒューズを入れておけば、過電流などにより事故が起きてもN側は、0Vなので危険はありません。 単位 h. 250 500 1 000 2 000 (6) 教えてください。 1kgf = 9.8N >度というのが摂氏だとすると、うっかり者が、 もしくは、この「K」は「ケルビン」ではないのでしょうか? (2)Nは接地側電線、Eは接地電線で、似てるようで違います。基本的にEは、機器と地面、Nと地面がつながっていますが、電流は流れません。なぜなら、たとえば、機器の筐体(ケース)などにEをつなげます...続きを読む, 位相の数が違う。といってもその「位相」って言葉から複雑怪奇。バカにでも理解できるようにわかりやすい言葉で教えてください。 電流は、Lから機器をとおり、Nの線から戻るので安全ですが、電流がLからEに流れてしまうと、人体や機器のケース、建物など、流れてはいけないところに電流が流れることになるので、感電や火災などの事故になり危険になります。 @どちらも大地に接地極を埋設しているのですが目的は全く違います。変圧器内で高圧と低圧が混食すれば電灯やコンセントの100V回路に6,600Vの高電圧が印加されて大変危険です。B種アース(トランスの中性点のアース)があれば高圧側(変電所等)でその電流を感知して地絡継電器が動作し高電圧を遮断できます。 しかしそうなるとますます、「なぜわざわざ℃と言わずにKというのか?」 kgfはSI単位ではないですが、質量の数値をそのまま重さとして考えることができるのがメリットですね。 (a) 電熱器・電気炉、溶接機など。 [摂氏]=([華氏]-32)×5÷9 相の呼称に関しても、アルファベットの終わりより3つ1組として 表-1 コンクリート表面の温度上昇の抑制を意図し試作したパネル 圧縮強度 (N/mm2) S 川砂 (F.M.2.71 密度 2.60g/cm 3) セメント:砂 1:2.2 水セメント比 50% 2.20 40 K10 川砂利 (15~5mm F.M.6.20 密度 2.60g/cm 3) 高性減水剤使用 ご参考にして頂ければ幸いです。 しつこいようですが最後に・・・、もし 絶対温度 0(K)=-273.15(℃)、と物理の教科書で調べました。 違うのですか? 一方、遮断容量は、その遮断器が、流れている電流を遮断できる最大の容量を表していると思います。 (a) 電熱器・電気炉、溶接機など。 また、各相は発電したときから決まっているのですか? もし置き換えられたとしても私には意味が理解出来ないです。 (a) 動力専用バ...続きを読む, ブレーカーの定格電流のだしかたを教えていただきたいのですが? 例えば、センチメートルのものさしとインチのものさしの様な違いです。 (2)Nは接地側電線、Eは接地電線で、似てるようで違います。基本的にEは、機器と地面、Nと地面がつながっていますが、電流は流れません。なぜなら、たとえば、機器の筐体(ケース)などにEをつなげますが、ここには電気が流れる経路がないからです。もし、ここに電気が流れてしまうことがあれば、それは漏電という事故になります。 機器-アースー地面-N側という経路に電気が流れてしまいます。 K(ケルビン)のことを理解していませんでした。degree Cに273を引いたり足したりするだけで換算できるということは、単位の表現は違えど数値の幅(差?)は同じなのですね。 一般的に電気的な容量とは、電圧×電流×時間で表されます。これは、エネルギーの容量を表し、遮断容量の場合も同じです。よって、容量であるにも関わらず電流値であると捉えらえることは間違いだと思います。 「ケルビンの温度差70K=摂氏の温度差70℃」 【3】 三相電源の接地形態はお分かりですか。 ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか? >>> なんか、日本語が変ですね。 1N/m^2 の応力、圧力を1Pa(パスカル)と言いますから、 どなたか教えてください。よろしくお願いします。, もともとは、RST、UVWに意味は無かったはずです。 同じ物差しという意味ですね。 です。 具体的に言うと、日本製の225AF/225ATの遮断器に...続きを読む, 配線図を見ると、トランスの中性点から、接地線が「アース」がとられていますが、中性点とアースは、同じなのでしょうか?中性点から、アースをとっても、同じなのでしょうか?地中から、トランスに電流を逃がすのと、直接中性点に逃がすのと、違いは、?あるのでしょうか?, 中性点とアースは、同じなのでしょうか? >温度上昇した結果、摂氏110度(=384K)になった  と読む可能性があります。 400N/40mm^2 = 10N/mm^2 = 10^7 N/m^2 同じ型の遮断器を異なる電圧で使用する場合など勘違いし易いので、注意が必要です。また、動作時間が変更できる機能がある場合も遮断できる電流値は変わってきますので注意のほど。 そうであれば、400Nを断面積で割るだけです。 例えば  = 40kg×9.8m/s^2 【4】 電力会社との契約種別。 (a) の場合は電力会社の、(b) の場合は主任技術者の指示を仰ぐことが必要です。, いくつか逆質問になります。 102グラム(0.102kg)の物体にかかる重力が1Nなので、 短絡電流の遮断については、動作特性をよく調べて使用してください。経済性を無視すれば、一度短絡電流を遮断した遮断器は、交換すべきだという人もいます。 既にご回答されているUVWやRSTに対する意味づけは、後付けルールみたいなものだと思います。 >※「度」の場合、華氏とは解釈しない、という意味程度と考えてください。 その理由は、日本の(多分全世界でそうだと思いますが?)電源事情が、定電圧送電方式となっているからです。即ち、電圧の項は、定数として扱えるため、変数となる電流値で表せば事実上問題がないのと、実用上合理的となるからだと思います。 お客様の許可なしに外部サービスに投稿することはございませんのでご安心ください。. 恥ずかしくて誰にも聞けないんです。, 一番大きな違いは、簡単な構造で、起動できるか(自分で回転を始められるか)どうかだと思います。一番簡単な構造である 誘導電動機で三相の場合はスイッチを入れるだけで回転を始めますが、単層の場合は、唸っているだけで回転を始められません。単相電動機でも何らかの方法で回転させれば、(例えば手で回しても良い、回転方向は、回してやった方向で決まる。)回転を続けます。この方法には、コンデンサー起動、反発起動等がありますが 1/2HPぐらいまでの小さなものに限られます。町工場など住宅地では、三相交流の供給が受けられませんので苦労したこともありました。 e試験方法は、jis k6911に準ずる。e記載の数値は代表値であり、保証値ではありません。 (注1)「推奨使用温度」とは、ある程度長期間使用しても急激な品質の低下がない温度を示します。(次頁「断熱板特性グラフ」参照) ということですか? 表 3 の中の値から選んだ個別規格の規定による。 表 3 試験時間. ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか? >※※ということで、法律上は、ケルビンと摂氏の決め手は何もナシ。 XYZは何かと登場するため、利用は避けられているようですが と多少は誤差が出ると思いますが、こんな感じだったと思います。 40kgのおもりなので、「おもりにかかる重力」は40kg...続きを読む, 三相電力にはU相V相W相がありますよね?これはR相S相T相とどこが そこで、実際の選定ですが、先ずヒューズを入れる目的を明確に整理します。どうなったら遮断するかです。例えばショートすれば、必ず切れますから、このときは、接続されている電源コンセント、コード、屋内配線、ブレーカーなどが保護できる時間で切れればよい。とかです。切れるのが遅いと発火したりブレーカーが飛んだりします。 今、ようやく理解することができました。 逆に華氏から摂氏を求めるには 電圧降下が2%とか3%とかまで許されるなら、電線こう長はそれぞれ2倍、3倍となります。, ※各種外部サービスのアカウントをお持ちの方はこちらから簡単に登録できます。 (b) 蛍光灯・水銀灯、エアコンなど。 私の解釈が合っているかまだ不安ですが、 >>>1N=9.8kgfなので、「40kg=N×0.98」でいいのでしょうか? いつも質問ばかりしていては、皆さんに申し訳ないので、微力ながら知っている範囲でお答えします。 ですが、ケルビンをセルシウス温度に換算すると70Kは 単相と三相の利点と欠点。使い分け方。マメ知識なんぞ教えてください。 いつも質問ばかりしていては、皆さんに申し訳ないので、微力ながら知っている範囲でお答えします。 最後に、遮断容量の大きいものの方が良いのかどうかと言う点については、必要な遮断容量が確保されていらば、最小値でかまわないと思います。 しかし、現実には、遮断容量が、電流値で表されていることが多いのも事実です。 (ニ) 熱電温度計法により測定した試験品の底部に面する木台の表面の温度上昇は、120K以下であること。 しかし、試験片の片方が固定されているため、見かけ、無重力で、試験片だけに40kgfの力だけがかかっているのと同じ状況になります。 具体的に言うと、日本製の225AF/225ATの遮断器に225Aの電流を流したとしても遮断器はOFF動作しません。 >>> Method for test of connectors for use in electronic equipment, 適用範囲  この規格は,主として電子機器に用いるコネクタ及び附属品の試験方法について規定する。, 用語の定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 0010 及び JIS C 5401 の規定によるほか,次, おすコンタクト  めすコンタクトの中に入り,その外面で電気的接続をするコンタクト。, めすコンタクト  おすコンタクトを受け入れ,その内面で電気的接続をするコンタクト。, 圧着コンタクト  機械的塑性加工を加えて結線する(圧着する)収容部をもつコンタクト。, プローブダメージ  プローブ(テストピン)のこじりなどによるめすコンタクトのばね性の損傷。, クローズドエントリ  規定の寸法より大きなプローブ(テストピン)の挿入,こじりなどによるめす, コンタクトのゲージ保持力  弾性をもつコンタクトに規定のゲージを挿入後,これを抜去するときに, グランディングコンタクト  コネクタを結合したとき,シェルの電気的接続を得るためにシェルに設, 誤結合防止機構  コネクタが正規の位置で結合する前にコンタクトが接触しないように設けた構造。, ケーブルクランプ  コンタクトに結線された電線とその結線部をこれに加わる外力から保護し,電線, 標準状態  試験及び測定は,個別規格に規定がない限り,JIS C 0010 の 5.3(試験場所の標準状態), の規定による標準状態(温度 15〜35℃,相対湿度 25〜85%,気圧 86〜106kPa)の下で行う。ただし,こ, の標準状態で測定値による判定に疑義を生じた場合又は特に要求された場合は 3.2 による。, 判定状態  判定状態は,JIS C 0010 の 5.2(判定状態)の規定による判定状態 I の温度 2 級及び湿度, 後処理条件  後処理条件は,JIS C 0010 の 5.4(後処理条件)の規定に基づき,次による。, 後処理の実施方法  供試コネクタを試験終了後 10 分以内に後処理条件を満足する後処理槽に入れる。, 個別規格に後処理後直ちに行わなければならない測定の規定がある場合は,後処理槽から取り出した, 後 30 分以内にこれを行うこととし,後処理槽から取り出した後,最も急激な変化が予測される試験か, 後処理槽の温度  供試コネクタを後処理槽から取り出すときは,湿気の吸収及び放出を防ぐために後, 外観,構造及び仕上げ  外観,構造及び仕上げは,次の項目について目視によって試験を行う。, また,個別規格に拡大鏡の使用及び表面処理の実施について規定がある場合は,これによる。, 寸法  寸法の試験は,JIS B 7507 に規定のノギス又は JIS B 7502 に規定のマイクロメータ,ゲージ,, 投影器,工具顕微鏡などによって行う。ただし,ねじは JIS B 0251 及び JIS B 0252 に規定のねじゲージを, 互換性  互換性の試験は,適合する結合部をもつコネクタから任意に選んで結合及び離脱して行う。, 装置  この試験に用いる装置は,規定の試験電圧まで徐々に昇降でき,漏れ電流の設定ができ,電, 試験  個別規格に規定する直流又は商用周波数の交流(実効値)の試験電圧を次の方法 A,方法 B, 方法 C のいずれかによって 1 分±5 秒間印加したとき,絶縁破壊,せん絡などの有無及び規定以上の, なお,電圧は,0V から徐々に規定値まで,毎秒 500V を超えない割合で印加する。, 方法 A  すべてのコンタクトとコネクタの他の金属部とを電気的に一括接続する。まず,その中から, コンタクトを切り離し,先の一括接続したグループとの間に規定の試験電圧を印加する。次に,一, 括接続した中から次の 1 コンタクトを入れ替えて同様に試験電圧を印加し,順次,1 コンタクトずつ, 方法 B  隣接するコンタクト間及び他の金属部間に試験電圧を印加できるように,一括接続し,規定, なお,コンタクト配列によって,一回の一括接続ですべての隣接するコンタクト間及び他の金属部, 方法 C  規定の試験電圧を隣接コンタクト相互間及びコンタクトとその他の隣接金属部間に印加し,, 装置  この試験に用いる装置は,JIS C 1302 に規定の絶縁抵抗計若しくは JIS C 1303 に規定の高絶, 試験  表 1 の中の値から選んだ個別規格に規定する電圧を,次の方法 A,方法 B 又は方法 C のい, ずれかによって 1 分±5 秒間印加後,絶縁抵抗を測定する。ただし,規定時間以内でも規定された絶縁抵, 抗値を超えて測定器の読みが安定するか又は更に上昇する傾向にあるときは,その読みの値によって測定, 装置  この試験に用いる装置は,接触抵抗値の測定確度が±10%であり,図 4 に示すような測定回, 準備  供試コネクタのコンタクトに適合する電線を結線し,通常使用する状態に結合して図 4 の回, 試験  試験電流は,直流又は 2kHz を超えない交流とし,個別規格に規定する電流を図 4 の回路構, 先の試験電流値と電圧降下の値から接触抵抗値を算出する。直流測定の場合は,電流の方向を切り換えて, なお,測定中コンタクトに異常な力が加わったり,電線に引張力が加わったりすることがないように注, 直流で測定する場合  開回路電圧 20mV,供試コネクタに 100mA 以下の任意の直流電流を供給でき,, 備考  電流計の内部抵抗が高く,測定上支障がある場合は,電流計の部分を次の回路に置き換える。, 交流で測定する場合  周波数 2kHz 以下で,開回路電圧 20mV,供試コネクタに 100mA 以下の任意の, なお,試験前に個別規格に規定する値以上の電圧及び電流を供試コネクタに印加してはならない。, 試験  開回路電圧 20mV に調整した装置に供試コネクタを接続し,個別規格に規定する電流を通電, する。その状態で,個別規格に規定する測定点間の電圧降下を測定し,先の試験電流値と電圧降下の値か, ら接触抵抗値を算出する。直流測定の場合は,電流の方向を切り換えて正逆について測定し,その結果を, 装置  この試験に用いる装置は,コネクタの耐振性(6.1 参照),衝撃(6.2 参照)などの動的試験, 準備  コンタクトのチャタリングを試験する部分と装置との接続は,適切な接続具その他を用いて, 試験  個別規格に規定する表 2 の遮断時間が検出できる 5.5.1 の装置を振動,衝撃などの動的試験, 装置に取り付けられた供試コネクタに接続し,動的試験中に規定値以上の電流の断があるかどうかを調べ, 装置  この試験に用いる装置は,個別規格に規定する周波数範囲の信号を個々に又は連続して発生, できる高周波信号発生器及び供試コネクタの電圧定在波比が検出,表示できる装置とする。, なお,装置と測定回路構成部品は,供試コネクタ及び適用同軸ケーブルの公称特性インピーダンスと同, また,測定回路に用いるコネクタは,個別規格に規定する標準試験用コネクタを使用する。, 準備  供試コネクタに適用同軸ケーブルを個別規格に規定する方法又は製造業者が推奨する方法, 試験  電圧定在波比の測定回路に供試コネクタを結合して個別規格に規定する周波数範囲につい, オシロスコープ  400Hz から 1MHz までの間で±3dB の平たんな周波数特性をもつ残像性のもので,, 測定回路  図 6 に示す回路又はこれと同等以上の測定結果が得られる回路とする。回路に流す電流は, 備考  電流計の内部抵抗が高く,測定上支障がある場合は電流計の部分を次の回路に置き換える。, 準備  供試コネクタと測定装置との接続は,適切な接続具,その他を用いて確実に行い,測定誤差, 試験  試験は,耐振性(6.1 参照),衝撃(6.2 参照)などの動的試験中に行うこととし,供試コネ, 装置  この試験に用いる装置は,個別規格の規定による 5.3 又は 5.7 に規定の装置のいずれかとす, 準備  レセプタクルコネクタ(又はシェル)は,パネルに取り付ける。プラグコネクタは,電線又, はケーブルを取り付ける。供試コネクタと測定装置との接続は適切な接続具その他を用いて確実に行い,, 試験  試験は,シェルを結合させた状態で個別規格の規定によって,5.3 又は 5.7 に規定の試験を, プラグコネクタ相互の結合では一方のコネクタのケーブル編組と他方のコネクタのケーブル編組との, 固定形レセプタクル相互の結合では一方のコネクタ取付パネルと他方のコネクタ取付パネルとの間, 装置  この試験に用いる装置は,(3)の試験を行うのに十分な性能を備えた図 7 の回路のものを用い,, なお,回路の構成部品及びケーブル又は電線は,供試コネクタよりも高い要求条件を満たすものを, 準備  供試コネクタに適合するケーブル又は電線を通常使用する方法で取り付け,配線する。, 供試コネクタの状態,例えば,コネクタの結合・非結合の状態や附属部品の装着は,個別規格の規, 試験  試験電圧を印加し,オシロスコープに局部放電が認められるまで徐々に電圧を上げる。その後,, 局部放電消滅電圧を求めるために,放電が止むまで電圧を下げてそのときの電圧の値を記録する。, なお,印加する試験電圧値は,5.1 の試験電圧値を超えない範囲で個別規格に規定する。, また,5.1 の試験電圧値に達しても局部放電が起こらない場合,その供試コネクタは,要求条件を満, 装置  この試験に用いる装置は,(3)の試験を行うのに十分な性能を備えた図 8 の回路又はこれと同等, の測定結果が得られる回路で構成し,試験電圧は交流(商用周波数)とする。検出器は 5 ピコクーロ, なお,回路の構成部品及びケーブルは,供試コネクタよりも高い要求条件を満たすものを使用しな, 準備  一対の供試コネクタの各々に適合するケーブルを通常使用する方法で取り付け,他端は電圧を, なお,供試コネクタ内部及びケーブル取付部分に局部放電を抑制するようなグリース,コンパウン, 試験  試験電圧を印加し,5pC が検出できるオシロスコープに,持続した局部放電が認められるまで, 徐々に電圧を上げる。その後,局部放電消滅電圧を求めるために,オシロスコープに局部放電が認め, 装置  この試験に用いる測定装置は,JIS C 1601 に規定の指示熱電温度計又は JIS C 1603 に規定の, 準備  結合した供試コネクタが静止空気中で,ほかから熱の影響を受けないように取り付け,規定, がない限り,供試コネクタのコンタクトが絶縁体外部に現れた最も近い部分に,温度計の感知部分を接続, する。個別規格に規定する電線を供試コネクタに 500mm 以上の長さに接続する。ただし,疑義を生じな, 方法 A  供試コネクタの各コンタクトに定格電流を通電し,温度上昇値(測温部の温度−周囲温度), が 10 分間隔で連続 3 回の測定で相互間に 0.5℃以上の差がなくなるまで測定する。周囲温度は,試験, 中の供試コネクタの測温部から水平方向に約 300mm 以上離れたところで測定する。, 方法 B  個別規格に規定する試験電流を供試コネクタの各コンタクトに 5 時間通電し,その間の温度, 装置  この試験に用いる測定装置は,JIS C 1601 に規定の指示熱電温度計及び JIS C 1603 に規定の, 電流をすべてのコンタクトに通電し,供試コネクタの測定点が最高使用温度に到達するまで徐々に増, ただし,電流は,供試コネクタの測定点が熱的安定になるまで増加させてはならない。調節中は,, 供試コネクタの最高使用温度及び規定の最高負荷電流のいずれも決して超えてはならない。, 試験中供試コネクタの最高使用温度を 5%以上超えた場合は,試験を中止し,再試験を行う。, 供試コネクタを通る最高負荷電流による温度上昇が最高使用温度まで達していないときは,槽の温度, 接続電線の種類,太さ及び温度測定箇所を含む供試コネクタの準備(5.11.2 参照), 装置  この試験に用いる装置は,確度±5%の静電容量ブリッジ又はこれと同等以上の確度をもつ, 試験  1kHz±200Hz 又は 1MHz±200kHz の交流電圧で,静電容量を測定する。この場合,交流電, 準備  試験中,供試コネクタの取付方法及び結線形態は,個別規格に規定がない限り,次による。, 供試コネクタは,静止空気中で他から熱を受けないように保護できる容器の中に取り付ける。, なお,容器の大きさは,供試コネクタの端部から容器の側面まで 200mm 以上,底まで 50mm 以上, なお,熱伝導率が 2W/mK 以下の熱絶縁材料を供試コネクタの全表面積の 20%以下で接触させて取, 供試コネクタは,コンタクトに適合する最大電流を流せる電線を接続する。供試コネクタに接続され, また,多極コネクタの場合は各コンタクトを直列に接続し,その電線の長さは約 250mm とする。, 供試コネクタのコンタクトが絶縁体外部に現れた最も近い部分に温度計の感知部分を接続する。, 個別規格に規定する電流を供試コネクタのコンタクトに 1 時間を超えない時間通電し,測温部の温, 個別規格に規定がない限り,供試コネクタは,3 個とし,電流の水準は 3 水準以上とする。, 個別規格に規定がない限り,環境温度の測定位置は,供試コネクタの軸を通る平面でコネクタ長手, 図 11 に図示した曲線を基本曲線とし,個別規格の規定によって軽減曲線を決定する。, 装置  この試験に用いる装置は,次の要求特性を得るのに十分な性能を備えた試験機とする。, 要求特性  振動試験機に供試コネクタを取り付けた状態で試験機と取付ジグとに要求される特性は,, 基本運動  基本運動は,時間の正弦関数とし,(1.2)及び(1.3)の制約を受けるが,供試コネクタの固, 横運動  規定軸に垂直な各軸上の観測点での最大振幅は 500Hz までは規定振幅の 50%以下,500Hz, ひずみ  ひずみは,基準点で 50kHz までの振動数又は励振振動数の 5 倍までの振動数のいずれか大, 振幅の許容差  観測点及び基準点での振幅の許容差は,次のとおりとする。これらの許容差には計, 掃引  掃引は,連続的に行い,振動数は,時間の指数関数的に変化させる。掃引速度は,1 オクタ, 準備  供試コネクタを個別規格に規定する方法で取り付ける。供試コネクタにケーブルを接続する, 場合は,供試コネクタが使用状態のときに受ける拘束力及び質量と同じものが加わるように実装する。こ, また,供試コネクタは 5.5 の試験を行うため,規定がない限りすべて直列に接続する。, はん用地上設置物及び地上輸送機関の一般用途,高速小形艦船及び一般航空機に用いられる部品, 中間測定  全時間に対し 5.5 の試験を行う。ただし,個別規格に規定がある場合は,5.7 の試験を行う。, 要求特性  衝撃試験機及び取付ジグに供試コネクタを取り付けたとき,観測点に加える衝撃は図 12,, 図 13 及び図 14 の破線で示す加速度対時間の理想カーブの一つに近似のパルスとする。, 基本波パルスの波形  実際のパルス波形の真値は,それぞれの関係図の実線で示している許容差内, 速度変化の許容差  すべての波形の速度変化は,理想パルスの値の±15%とする。実際のパルスの, 積分によって速度変化を求めるときは,パルスの 0.4D 前から 0.1D 後まで積分する必要がある。, 横方向の運動  観測点での規定衝撃方向に直角な正又は負のピーク加速度を(2)の測定装置で測定, 測定装置  測定装置の特性は,観測点での規定方向の実測パルスの真値が図 12,図 13 及び図 14 の各, また,供試コンタクトは,5.5 の試験を行うため,個別規格に規定がない限りすべて直列に接続する。, 試験条件  衝撃は,かん合軸に沿う 2 方向を含む互いに垂直な 6 方向に規定がない限りそれぞれ 3 回, なお,試験中に 5.5 の試験を行う。ただし,個別規格に規定がある場合は,5.7 の試験を行う。, 装置  この試験に用いる装置は,6.3.3 の試験を行うのに十分な機構をもち,適切な方法によって, 動作回数  個別規格に規定する方法で供試コネクタを取り付け,表 6 に示す値から選んだ個別規格, 100  250  500  1 000  2 000  5 000  10 000, なお,個別規格で結合・離脱できる装置の使用が認められている場合は,この装置を使用しても, 装置  この試験に用いる装置は,6.4.3 の試験を行うのに十分な性能を備えたゲージ及び引張試験, 準備  供試コネクタのめすコンタクトに,個別規格に規定する最大寸法のゲージを規定がない限り, 試験  めすコンタクトに個別規格に規定する最小寸法のゲージを挿入し,抜去する方向の保持力を, 装置  この試験に用いる装置は,図 16〜18 に示す試験ジグ及び試験を行うのに十分な性能を備え, 準備  円筒状の供試めすコンタクトを図 17 及び図 18 に示すように試験中回転できるジグに固定し,, 図 18 に示すようにコネクタに組み込まれたコンタクトを試験する場合には,コンタクトがコネク, 試験  供試コンタクトに規定のモーメントを与えるジグのテストピンを規定の深さまで挿入し,静, かにコンタクトを軸の回りに 360°回転させる。これを規定の挿入順序に従って繰り返す。個別規格に深, 装置  この試験に用いる装置は,6.6.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた引張試験機とする。, 準備  結合・離脱の動作を補助する附属品などの試験に不要な部分は供試コネクタから取り除き,, 試験  コネクタ相互間又はコネクタと適合ゲージ相互間を軸方向に一定の速度で結合・離脱して,, 装置  この試験に用いる装置は,6.7.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた引張試験機とする。, 準備  供試コネクタに適合するケーブルを通常使用する方法で締付具によって締め付け,個別規格, 試験  ケーブルが垂直となるように供試コネクタを取付台などに固定し,ケーブルの端に軸方向に, 引張力を加える。引張力は徐々に規定値まで 20N/s 以下の割合で増大させ,規定値で 1 分間保持した後,, 装置  この試験に用いる装置は,6.8.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた引張試験機とする。', 準備  供試コネクタを通常使用する方法で結合部を含めて結合し,個別規格に規定する方法で試験, 試験  供試コネクタにかん合軸方向に規定の割合で徐々に引張力を加え,規定の大きさで 15 秒間, 装置  この試験に用いる装置は,6.9.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,力及び(又は)トル, 準備  個別規格に規定する方法によって,供試コネクタは,パネル又はシャシに取り付ける。ケー, 試験  供試コネクタを取り付けたパネル又はシャシを試験機に取り付け,個別規格に規定する力及, び(又は)トルクを規定する位置に,規定する方向に加える。力は取付板に垂直に加える。力及び(又は), トルクは徐々に規定値まで増大させ,規定の時間保持した後,取付部の異常の有無を調べる。, 装置  この試験に用いる装置は,6.10.3 の試験を行うのに十分な機能を備えたケーブル取付ジグ,, なお,ケーブルの長さは 2 250±10mm とし,通常使用するケーブルの中で最も細いか又は最も可とう性, 試験  図 19 に示すように,ケーブルの端をケーブルが水平,垂直方向に自由に移動できる取付ジ, 表 7 の値から選んだ個別規格に規定する高さに保持する。ただし,ケーブルは水平で,供, 試コネクタを個別規格に規定する向きに保持する。供試コネクタを 300×500mm,厚さ 25mm の鋼板上に, 装置  この試験に用いるコネクタ取付ジグは,供試コネクタを通常の方法で取り付けることができ,, プリント配線板表面のコンタクト部と直接結合するコネクタは,ゲージの代わりにプリント配線板を使, 試験  結合装置があればそれを使用し,結合力を個別規格の規定に従って適合するコネクタに加え,, なお,個別規格に規定がある場合,誤結合防止機構はコンタクトが接触する前に機能するかどうかを調, 装置  この試験に用いる装置は,6.12.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた試験機とする。, 試験  結合・離脱の動作を補助する結合装置などの附属品及び特別な装置を含めて,供試コネクタ, 装置  この試験に用いる装置は,6.13.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,力及び(又は)トル, 試験  個別規格に規定する力を約 20N/s の割合で徐々に印加し,次の(1)〜(4)に示す方向に 1 分間, また,規定のトルクをレバーの両回転方向にレバーに対し規定の時間加える。試験後,レバーなどの異, 装置  この試験に用いる装置は,6.14.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,力を連続的に加える, 準備  個別規格に規定する方法によって供試コネクタは,パネル又はシャシに取り付ける。ケーブ, 試験  供試コネクタを取り付けたパネル又はシャシを試験機に取り付け,個別規格に規定する力を, 規定の位置で規定の方向に加える。この力は取付板に平行に加え,徐々に規定値まで増大させ,規定の時, 装置  この試験に用いる装置は,6.15.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,コンタクトの軸方向, 準備  通常使用する方法で,すべてのコンタクトを供試コンタクトに挿入し,個別規格に規定する, 試験  供試コネクタの全コンタクト数の 20%のコンタクト(ただし,6 コンタクト以上)を無作為, に選択する。ただし,少なくともそのうち 1 個は周辺の近傍,1 個は中央の近傍にあるものとする。コン, コンタクトの軸方向にコネクタの結合面側から,力を徐々に規定値まで 10N/s 以下の割合で増大させ,, その規定値で 10 秒間保持する。次にコネクタの結線側から力を同様に印加し,力の印加中及び印加後コン, 装置  この試験に用いる装置は,6.16.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,コンタクトを挿入及, 準備  通常使用する方法でコンタクトと電線を接続し,すべてのコンタクトを通常の方法で供試コ, ネクタに挿入する。コンタクトを挿入,引抜きできるように試験に不要な部分は取り除くか緩め,個別規, 供試コネクタを個別規格に規定する初期測定を行った後,規定の挿入,引抜きできる装置を用いて,規, 装置  この試験に用いる装置は,6.17.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,シェル内の絶縁体に, 試験  絶縁体の軸方向にコネクタの結合面側から力又は圧力を個別規格に規定する値まで約 50N/s, 又は 5kPa/s の割合で増大させ,その規定値で 1 分間保持する。次にコネクタの結線側から力又は圧力を同, 装置  この試験に用いる装置は,6.18.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,シェル内の絶縁体に, 試験  個別規格に規定する方法でジグを用いて絶縁体のねじり方向にトルクを徐々に規定値まで, 約 0.50Nm/s の割合で増大させ,その規定値で 1 分間保持した後,絶縁体の移動及び異常の有無を調べる。, 装置  この試験に用いる装置は,6.19.3 の試験を行うのに十分な性能と機能を備えた試験機及びコ, に選択する。ただし・少なくともそのうち 1 個は周辺の近傍,1 個は中央の近傍にあるものとする。コン, コンタクト挿入力  個別規格に規定するコンタクトを挿入できるジグを用いて,コンタクトを通常使, コンタクト引抜き力  個別規格に規定するコンタクトを引抜きできるジグを用いて,コンタクトをコ, 装置  この試験に用いる装置は,6.20.3 の試験を行うのに十分な性能を備えたゲージ及び力を印加, 試験  めすコンタクトに適合するおすコンタクトより大きい個別規格に規定するゲージをクロー, ズドエントリ部に当て,規定された力をゲージに印加し,ゲージがめすコンタクトに挿入できないかどう, 装置  この試験に用いる装置は,6.21.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた試験機とする。, 試験  供試コンタクトの図 21 に示す位置に,個別規格に規定する力を印加し,1 分間保持した後,, 装置  この試験に用いる装置は,6.22.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた引張試験機とする。, 準備  個別規格に規定する圧着工具を用いて,規定の電線の心線を供試コンタクトの心線圧着部に, 試験  コンタクトの圧着部が変形しないように供試コンタクトを引張試験機に取り付け,電線の心, 装置  この試験に用いる装置は,6.23.3 の試験を行うのに十分な機能を備えた測定器,コンタクト, 準備  円筒状の供試圧着コンタクト 20 個及び適合する太さの電線のうち,最も太いものと最も細, 試験  供試コンタクトをその軸方向の周りに回転できるように図 23 の斜線で示した部分をジグで, 図 23 で示す各々の位置で測定を行う。保持ジグを 360°回転させ,最大値と最小値を読み取り,, 装置  この試験に用いる装置は,6.24.3 の試験を行うのに十分な性能を備えた試験機とする。, 準備  個別規格に規定する電線を少なくとも 100mm 準備し,電線の両端は被覆を取り除かないで, 試験  個別規格に規定する丸棒に図 24 に示すように被覆圧着部及び電線が密着するように少なく, 巻き付けて同様に行い,これを 1 回とする。これを規定の回数繰り返し,被覆圧着部の異常の有無を調べ, 個別規格に規定がある場合は,電線から心線を取り外した後,心線に機能を損なうような異常の有無を, 装置  この試験に用いる装置は,6.25.3 の試験を行うのに十分な性能を備えたゲージとする。, 試験  個別規格に規定するゲージをグランディングコンタクトに 3 回挿入・抜去を行った後,ゲー, ジの質量によってゲージが抜ける方向に供試コネクタを保持してゲージを挿入し,ゲージの離脱の有無を, 装置  この試験に用いる装置は,6.26.3 の試験を行うのに十分な性能を備え,試験の際,試験結果, 引張強さ[JIS C 0051 の 2.(試験 Ua1)参照]  引張強さ試験は,次による。, 試験を行うコンタクト端子数は個別規格の規定による。ただし,コンタクト端子数が 4 個未満の, 手順  コンタクト端子部を正常の位置で,供試コネクタ本体を固定し,規定の引張力を端子の引出, より線は,力を加える前に力を加えるところで機械的に一体とする(はんだ付け又は結び目を作, なお,絶縁線及びより線の性能は,はがす,接合する,結び目を作るなどの操作によって,試験, 結果に疑義を生じるおそれがあるので,このような操作は個別規格の規定によるか又は受渡当事者, 別規格の規定による公称寸法から算出する。より線端子の公称断面積は,個別規格の規定による導線の個々の素線の断面積を合計して算出, その他の端子(ラグ端子,内溝付スタッド,ねじ端子など)  加える引張力は,個別規格の規定に, 加える引張力(公称断面積が極端に小さい又は大きいリード線端子及びその他の端子の場合), 押し強さ[JIS C 0051 の 3.(試験 Ua2)参照]  押し強さ試験は,次による。, 適用  試験を行うコンタクト端子数は,個別規格の規定による。ただし,コンタクト端子数が 4 個, 手順  端子を通常の位置で,供試コネクタ本体を固定し,供試コネクタ本体にできるだけ近い端子, の部分に押力を加える。ただし,供試コネクタ本体と押力を加える装置の最も近い点との間には,, なお,絶縁線の性能は,はがす操作で試験結果に疑義を生じる場合がある。したがって,このよ, その他の端子(ラグ端子,内溝付スタッド,ねじ端子など)  加える押力は,個別規格の規定によ, 曲げ強さ[JIS C 0051 の 4.(試験 Ub)参照]  曲げ強さ試験は,次による。, 適用  この試験は曲がりやすいコンタクト端子部だけに適用し,これを適用する場合は,個別規格, 試験を行うコンタクト端子数は,(3.2)(c)の同時曲げ強さの場合を除き個別規格の規定による。, また,コンタクト端子数が 4 個未満のコネクタは,すべてのコンタクト端子部について行う。, なお,同時曲げ強さは,一般に一つ又はそれ以上の側面に一列に数個の端子をもつ,微小コネク, リード端子又は板状端子の場合  端子を通常の位置で,その端子の軸が垂直になるように供試コネ, 供試コネクタ本体を垂直面内で 2〜3 秒間で約 90°曲げ,次に同じ速さで元の位置に戻す。以上, 方法 A:1 回の曲げに引き続いて反対方向に曲げるか又は個別規格の規定回数曲げる。, 方法 B:同一方向に中断することなく 2 回曲げるか又は個別規格の規定回数曲げる。, 供試コネクタ本体と力を加える点の間には,曲率半径を描かせるような物を置かないようにする。, なお,個別規格にプライヤの使用,曲げる場所などの詳細事項の規定がある場合はこれによる。, 決められていない場合は供試コネクタ本体と端子の間で封止した部分から約 3mm のところで加え,, 次に,端子が下を向くように加えた固定ジグにおもりを付加する。このおもりは,固定ジグも含, を 2〜3 秒間で約 45°に曲げた後,同じ速さで元の位置に戻す。次に反対方向に曲げ,再び元の位, 試験を行うコンタクト端子数は,個別規格の規定による。ただし,コンタクト端子数が 4 個未満, この試験に際し,ねじに対して適切なゆとりある穴が開いている座金又は金属板を,ねじの頭部, 座金又は金属板の厚さは,ねじの公称ピッチの約 6 倍とし,また,ナットの厚さは,ねじの公称, 直径が 6mm より大きいねじ端子又はその他の理由で必要な場合の異なるトルクの値(必要がある, 供試コネクタに適合するケーブルを通常使用する方法で取り付け,供試コネクタをケーブル, ケーブルを締め付けた位置から規定された位置で試験機に取り付け,ケーブルに規定の力を, 垂直方向に加え,ケーブルに曲げモーメントを与える。力は徐々に規定値まで,20N/s 以下の割合で, 増大させ,1 分間保持した後,力を取り去り,ケーブルを水平状態に戻し,反対側の垂直方向にも同, 供試コネクタのケーブル挿入口で,ケーブルの最小曲げ半径となるようなおもりをケーブル, 端に取り付けてケーブルを曲げる。次にケーブルがコネクタのケーブル挿入口と直線になる位置まで, 供試コネクタに適合するケーブルを通常使用する方法で取り付け,供試コネクタを個別規格に, ケーブルの端を供試コネクタのケーブルクランプに対し,45〜50°曲げた後 360°回転させる。, 回転の回数及び速度は個別規格の規定による。試験後,ケーブル及びケーブルクランプ部の異常の有, なお,試験中,規定された状態を保持するため,たるまない程度にケーブルに最低必要な引張力を, 供試コネクタに適合するケーブルの最小曲げ半径の 3 倍の長さのケーブルを取り付け,供試コ, 供試コネクタのケーブル挿入口からケーブルをケーブル最小曲げ半径で 90°に曲げ,コネクタ, の軸に垂直な平面の円周上を,個別規格に規定する回数,ケーブルを回転させる。試験後,ケーブル, 供試コネクタに適合するケーブルを通常使用する方法で締付具によって締め付け,個別規格, 以下の割合で増大させ,1 分間保持した後,ケーブルの移動並びにケーブル及びケーブルクラン, 供試コネクタを取り付けたパネル又はシャシを試験機に取り付け,適合するコネクタを結合, して,個別規格に規定する力を規定の位置に,コネクタの軸に垂直な方向に徐々に規定値まで増大させ,, 個別規格に規定するより線鋼ケーブルを圧着したコンタクトを供試コネクタへ挿入する。個, 別規格に規定がない場合は,1 個の供試コネクタについて 2 個のコンタクトが各々試験できるように準備, なお,試験中に鋼ケーブルがコンタクトから抜け出さないように鋼ケーブルの端末をろう付け,溶接又, け,鋼ケーブルを供試コネクタの軸方向と角度 45±5°に傾け滑車を通して個別規格に規定するおもりに, よってコンタクトに引張力を印加する。この状態で試験ジグを 360 度回転させ,これを 1 サイクルとして, 分間に 10〜20 サイクルの割合で 100 サイクル試験し,コンタクトが正常な位置から抜け出さないかどう, 速度変化を求める場合,パルスの 0.4D 前から 0.1D 後まで積分する必要がある。ここで,D は,理, って測定したとき,規定方向の理想パルスのピーク加速度値の 30%を超えてはならない。, 供試コネクタを個別規格に規定する方法で試験機に取り付ける。供試コネクタにケーブルを, 接続する場合は,供試コネクタが使用状態のときに受ける拘束力及び質量と同じものが加わるように実装, また,噴霧量は少なくとも 2 個の清浄な噴霧採取容器をノズルに最も近いところと,ノズルから最, 〜3.0ml 採取できる量とする。採取量に供試コネクタや他のものから塩水の滴が混入しないこと。, 塩水を噴霧する圧搾空気は,油,ほこりなどの不純物がなく,圧力は 68.6〜176.4kPa に保, に規定の塩化ナトリウムの 1 級相当品と蒸留水又は全固形物 200ppm 以下の純, の測定は,飽和塩化カリウム橋がある電極を用いて電気的に求めるが,同じ結果が得られるな, 試験中,塩水噴霧室中の供試コネクタの取付方法は,次の条件に適合しなければならない。, 個別規格に規定がない限り,供試コネクタの主要面は,鉛直線から,その結果に影響を及ぼさない範, 個別規格に規定がない限り,器具の調整と供試コネクタの検査など必要な短時間の中断以外は規定, 噴霧時間の終了後供試コネクタは,個別規格に規定がない限り塩の付着物を温度 35℃以下の, 場合,槽は,供試コネクタの置かれる場所のすべてにわたり供試コネクタが熱源から直接熱放射を受けな, 供試コネクタを一つの槽から他の槽へ移すとき,迅速に入れ換えることができるように槽を, また,個別規格に規定がない限り,供試コネクタの取付具は,熱伝導の低いものを用い,しかも槽内の, ただし,初めの 5 サイクルは連続して行い,その後のサイクルは,いずれのサイクルで中断してもよ, は,3 時間,2 時間,1 時間,30 分間又は 10 分間のいずれかとする。個別規格に規定がない場合, インジェクション形の槽を使って,湿度条件を調整する場合,使用する水の抵抗率は 500, 有効空間の全体にわたって条件が一様で,検出器の近傍での条件と,できるだけ同じであること。, 供試コネクタを,個別規格に規定する状態の槽に入れる。この際,供試コネクタに水滴が着かない, 供試コネクタを槽内の温度に予熱してから槽に入れることによって,これを防ぐことができる。, 供試コネクタを槽内に置いた後,次に示す値から選んだ個別規格で規定する時間放置する。, 個別規格に,供試コネクタを槽内に置いたまま,試験中又はその終わりに電気的負荷をかけること, なお,その測定方法及び測定時間又は測定間隔は,個別規格の規定による。供試コネクタをこれ, 放置時間の終了の時点で,供試コネクタを後処理のために標準状態に 1 時間以上 2 時間以内放置す, 供試コネクタを,後処理のために別の槽に移すか又は供試コネクタの種類及び(又は)試験設備の, 別の槽を使用する場合の移替え時間はできるだけ短くし,5 分間以内とする。槽の中に置いたま, まの場合の相対湿度は 30 分間以内に 73〜77%に減じ,その後,温度を 30 分間以内に室温±1℃に, 個別規格には,供試コネクタの表面の湿気の除去に特別の注意を払うべきかどうかを規定する。, 後処理後,直ちに測定を行う。最初に相対湿度の変化に敏感な項目を測定する。個別規格に規定が, この試験に使用する槽は,湿度試験の後に低温にさらすために,一つの槽又は二つの槽を使用, ±2℃及び 65±2℃の温度条件を,1.5 時間以上 2.5 時間以内に変えられること。, 槽内の温湿度条件は,有効空間中のどの点でも均一となるように注意し,適切な位置に取り付けら, れた検出部の条件とできるだけ近いこと。この条件を満たすために,槽内の空気を連続的に一定の, 凝縮した水は,連続的に槽外に排出し,浄化すれば再使用してもよい。槽の壁面及び天井の結露, 槽内の温湿度条件は,有効空間中のいかなる点の条件も均一になるように注意し,適切な位置に取, り付けられた検出器のごく近傍の条件にできるだけ近づける。この条件を満たすために,槽内の空, 初期測定の前に,供試コネクタを標準状態又は個別規格で規定する条件にして熱的に安定させる。, なお,10 回以内の場合には,個別規格にその回数と低温サブサイクルを一連の試験中のどこで行, 後,供試コネクタに低温サブサイクルを行う。残りの 4 サイクル及び最終サイクルは,低温サブサ, 低温サブサイクルは,一つの槽の温度を変えるか又は二つの槽を使用して供試コネクタを移し替, えるかして行う。二つの槽を使用する場合には,移替えによる熱衝撃に供試コネクタが影響されな, もし,供試コネクタが二つの槽を使用することによる熱衝撃によって重大な損傷が生じた場合,, 適用する。各々の 24 時間のサイクルの最初は,25±2℃,相対湿度 (93±3) %に調節する(, 槽の温度を 1.5〜2.5 時間のうちに連続的に 65±2℃までに上げる。この間,相対湿度を (93±3) %, 温度を 1.5〜2.5 時間のうちに 25±2℃に下げる。この間,相対湿度を 80〜96%に維持する。, サイクル開始後 8 時間経過してから再び 1.5〜2.5 時間のうちに連続的に 65±2℃まで上げ,安定さ, サイクル開始後 13.5 時間まで 65±2℃,相対温度 (93±3) %を維持する。, 〜2.5 時間のうちに 25±2℃下げる。この間,槽内の相対湿度を 80〜96%に維持する。, なお,それに引き続いて低温サブサイクルの開始まで又は 24 時間の終了まで,温度 25±2℃,相, 温湿度サブサイクルの終了に引き続いて,槽を温度 25±2℃,相対湿度 (93±3) %にして,少なくと, サイクル開始後 17.5 時間経過してから槽内温度を下げるか又は供試コネクタを別の槽に移し,サイ, クル開始後 18 時間までに−10±2℃にする。別の槽に移し替える場合は,供試コネクタの移替え時, サイクル開始後 18 時間経過してから,温度を−10±2℃に 3 時間維持する。低温サブサイクル中の, サイクル開始後 21 時間経過してから,温度を上昇させ,サイクル開始後 22.5 時間までに 25±2℃に, 供試コネクタを一つの槽から他の槽に移し替える場合は,移替え時間を 10〜15 分間とする。, 槽の温度は,25±2℃に 24 時間のサイクルが終了するまで維持する。この期間中の相対湿度は (93, 最終サイクルでは,温湿度サブサイクルの終了に引き続いて,試験槽を温度 25±2℃,, 電圧の種類及び大きさ並びに印加箇所は,個別規格の規定による。ただし,個別規格に印加電圧, の種類及び大きさの規定がない場合は,直流 100V とし,印加電圧の極性は,試験中変えない。, 高湿条件で実施する各種測定は,初期測定又は槽から取り出した後に行った測定とは直接比較で, 規格には,高い湿度中で測定を行う場合に必要な注意事項,例えば表面の水分を除去する方法など, 初期測定条件が標準状態と異なる場合には,最終測定条件も初期測定条件と同じ条件とする。, なお,最終測定は,放置中の時間内に行ってもよいが,不合格の供試コネクタは,24 時間放置時, 点で再度測定して合否の判定をする。初期測定条件が標準状態と異なる場合は,最終測定条件も初, 外に排出し,浄化すれば再利用してもよい。槽内の内壁及び天井の結露水が供試コネクタの上に落, 供試コネクタの寸法,特性及び(又は)電気的負荷によって槽内の条件が影響を受けてはならない。, なお,取付けの規定がない場合は,取付部の熱伝導を小さくし,供試コネクタを実質的に熱絶縁, の標準状態の範囲内とする。次に,供試コネクタを槽に入れたまま槽内温度を 25±3℃とし,槽内, の斜線で示す許容差内の変化の割合で上昇させ,3 時間±30 分で上限温度に達するように, の温度上昇後,12 時間±30 分間まで,上限温度を規定温度±2℃の範囲内に保つ。, この間の相対湿度を (93±3) %にするが,初めと最後の 15 分間は 90〜100%とする。, のように,初めの 1 時間 30 分の間の下降の割合は,3 時間±15 分で 25±3℃となるよう, その後 24 時間のサイクルの試験が終わるまで,槽内温度を 25±3℃,相対湿度を 95%, サイクル中に中間測定をすることが必要な場合は,個別規格にその測定方法と試験中での測定, 時期又は測定間隔を規定する。ただし,後処理を伴う測定は,試験中に行ってはならない。, 後処理条件を規定している場合は,供試コネクタを後処理の間,別の槽へ移すか又は湿度槽の中, 別の槽を使用する場合の移替えの時間は,10 分間以内のできるだけ短い時間とする。湿度槽の中, に置いたままの場合は,相対湿度を 30 分間以内に (75±2) %に下げ,その後,槽内温度を 30 分間, 後処理の時間(1 時間又は 2 時間)は,規定の後処理条件となったときからとする。, 熱時定数の大きな供試コネクタは,温度安定に達するように十分に長い時間をかけて後処理して, 供試プラグコネクタには通常使用する方法で適用ケーブルを取り付け,もう一方のケーブルの, 端は電圧が印加できるように端末処理をしておく。供試レセプタクルは,コネクタ裏面が完全密閉で, 供試コネクタを結合し,ケーブルの端は試験電圧が印加できるように試験槽から外部に出し,, 水温 70℃,深さ 300mm の水中に供試コネクタを 1 時間浸せきする。次に水温を室温に下げ,室温, に達した後 1 時間保つ。その後 1 時間で水温を 10±2℃に下げ,そのまま 1 時間保つ。その後水温を, 室温に戻す。供試コネクタは,この試験の開始から 24 時間経過するまで水中に浸せきしておく。供試, にし,供試コネクタ全体を水槽に入れ,供試コネクタの表面に付着した気泡を完全に取り除いた後,, 気圧に対し±0.1kPa 又は±5%のいずれか大きい範囲内に保持できるものとする。ただし,84kPa の場合の, 厳しさは,気圧及び放置時間の組合せによって表し,個別規格の規定による。それらの値は,, 放置時間は,5 分間,30 分間,2 時間,4 時間又は 16 時間とする。個別規格に規定がな, 試験場所の標準状態の気圧の下限 (86kPa) での試験が供試コネクタに要求される場合に適用す, 供試コネクタを個別規格に規定する気圧の槽内に保ち,個別規格に規定がない限り室温で個別規格, 個別規格に低温での減圧試験の規定がある場合は,減圧する前に温度を規定値まで下げ,また,圧, 槽の内壁温度は,熱放散の影響を少なくするために,絶対温度 (K) で表した試験温度の 3%の範囲を, また,供試コネクタが,この条件に適合しないような熱源及び冷却源に面してはならない。, 当たりの水分が 30g(35℃で相対湿度 75%に相当)を超えてはならない。35℃, 厳しさは,試験温度と放置時間の組合せによって表し,個別規格の規定による。それらの値, 槽の大きさによって,許容差を±2℃に維持できない場合は,100℃までは±3℃,100℃を超え, 供試コネクタに特定の取付具を使用するようになっているときは,試験の間,必ずこれを使用す, 又は 1m のいずれか短い距離で,供試コネクタの下方 0〜50mm に位置する水平面の個別規格, 槽の温度を規定の厳しさの温度とし,供試コネクタが温度安定に達する時間まで放置する。, 供試コネクタを個別規格に規定する時間,高温状態に放置する。放置時間は温度が安定に達したと, 実際には,供試コネクタの内部温度を直接測定することが不可能な場合もある。そのため温, 度依存性があり,また温度依存性の法則が分かっている他の項目を測定することによって確, 小さな供試コネクタの場合には,温度が安定に達したことを測定によって確認する必要はな, なお,このような測定を規定するときは個別規格によって,その測定方法及び測定時間又は時間間, 供試コネクタを温度が安定に達するのに必要な時間,少なくとも 1 時間は,後処理のために, 幾つかの供試コネクタを同時に試験する場合で,後処理時間が 1 時間で十分であるときは,最大後, 槽内壁温度は,熱放散の影響を少なくするために,絶対温度 (K) で表した試験温度の 8%の範囲を超, また,供試コネクタが,この条件に適合しないどのような熱源及び冷却源に面してはならない。, 供試コネクタを個別規格に規定する時間,低温状態に放置する。放置時間は,温度安定に達したと, 小さな供試コネクタの場合には,温度安定に達したことを測定によって確認する必要はない。, なお,その測定方法及び測定時間又は測定間隔は,個別規格の規定による。供試コネクタをこれら, 水滴を取り除くため,供試コネクタを手で振ったり,室温の空気を短時間吹き付けてもよい。, 供試コネクタを温度安定に達するのに必要な時間,少なくとも 1 時間は,後処理のために標準状態, 各試験項目の終了から次の試験項目に移す時間間隔は,3 日以内とする。ただし,試験順位 2 から 3 に, はんだ槽は,深さが 40mm 以上で,300ml 以上の容量のものとし,規定の温度に調整保, 活性化のために上記フラックスにジエチルアンモニウムクロライド(分析試薬級)を,塩素含有, 量[ロジン(コロホニー)含有量に対し,遊離塩素として表示]として 0.5%まで加えたものを,個, 試験する表面は受入れ状態のままとし,受入れ後,指や他の汚れたもので触れてはならない。, はんだ付け性試験の前に,供試コネクタのコンタクト端子部を清浄にしてはならない。ただし,個, 毎回,試験の直前に,溶融はんだの表面を適切な材料のへら(スキージ)でかき取って,清浄で輝, エージング温度が供試コネクタの最高使用温度又は同保存(貯蔵)温度よりも高い場合は,コ, また,供試コネクタが 100℃の蒸気でかなり劣化し,これが,自然のエージングでは通常起, こることがないモードで,しかもはんだ付け性へ影響する場合はコンタクト端子部だけを切り, エージングを行う場合は,ほうけい酸ガラス又はステンレス鋼製の適切な寸法の容器(例えば,, ビーカー)に入れた沸騰蒸留水の表面から,試験する部分が 25〜35mm 上の位置とする。, 勢いよく沸騰し続けるように,また,水位を保つため熱い蒸留水を少しずつ静かに加える。, によって 10 日間の湿度(定常状態)試験 (40±2℃,90〜95%RH)  を行う。, 時間垂れ切りするか又は同様な結果が得られる他の方法によって取り除く。疑義がある場合は,垂, 次に,直ちにコンタクト端子部を長軸方向にはんだ槽に浸せきする。コンタクト端子部を浸せきす, 浸せき速さは 25±2.5mm/s とし,個別規格に規定する深さに 2±0.5 秒間浸せきしたままにする。, その後,コンタクト端子部を 25±2.5mm/s の速さで引き出す。ただし,大きい熱容量をもつ供試, コネクタに対しては,個別規格で浸せきしたままにしておく時間を 5±0.5 秒間と規定してもよい。, 個別規格に規定がある場合は,厚さ 1.5±0.5mm の熱絶縁材料による板にコンタクト端子部の寸, を適切な照明の下で目視によって調べる。表面が見えにくい場合は,4〜10 倍の倍率の拡大鏡を補, こて先は銅になるべく鉄をめっきしたもの又は耐食性銅合金のものとし,こて先の試験表面をは, ホニー)を質量比 2.5〜3.5%含む 1 本又はそれ以上のしん(芯)を入れたものとする。試験中にこ, この試験を行う間,コンタクト端子部に機械的保持具を必要とする場合は,断熱材で作ったもの, を使用する。熱によって変化しやすいコネクタを試験する場合は,コネクタ本体と試験部との間隔, コンタクト端子部の外形寸法上から,以上の手順で行うことが不可能な場合は,別の条件を個別, 前に行った試験で,はんだこての試験表面に残っている余分のはんだはふきとっておく。特に時, 間の規定がない限り,はんだこてとはんだを個別規格に規定の位置でコンタクト端子部に 2〜3 秒間, 正常な視力又は見えにくい場合は,4〜10 倍の倍率の拡大鏡を補助具として使用し,適, 切な照明のもとで目視によって調べる。試験表面は,はんだでぬれていなければならない。, 析試薬級)を塩素含有量[ロジン(コロホニー)含有量に対し遊離塩素として表示]として 0.5%ま, 試験を耐湿性試験に先立って行う場合は,質量比で 25%のロジン(コロホニー)と 75%の, 毎回,試験の直前に,溶融はんだの表面を適切な材料のへら(スキージ)でかき取って,清浄, 供試コネクタをまず室温で規定のフラックスに浸せきし,次に長軸方向にはんだ槽に浸せきする。, コンタクト端子部を浸せきする場所は,槽の壁面から 10mm 以上離れた位置とする。個別規格に規, 定がない限り,コンタクト端子部を供試コネクタ本体又は取付面から 1 秒間以内に 2.0〜2.5mm の, 個別規格に規定がない限り,厚さ 1.5±0.5mm の断熱材の板にコンタクト端子部の寸法に応じた穴, Part 1 : General requirements and measuring methods, Electromechanical components for electronic equipment ; basic testing procedures, Part 2 : General examination, electrical continuity and contact resistance tests, insulation tests and, Electromechanical components for electronic equipment ; basic testing procedures, Part 5 : Impact tests (free components) , static load tests (fixed components) , endurance tests and, Part 6 : Climatic tests and soldering tests, Part 7 : Mechanical operating tests and sealing tests, Part 8 : Connector tests (mechanical) and mechanical tests on contacts and terminations.

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